器件离子辐照分系统
器件离子辐照分系统基于300MeV质子/ 重离子加速器、 10MeV质子加速器以及1MeV电子加速器开展元器件辐照试验。可进行电子元器件原位在线的工程评价、机理分析以及高精度离线测试等工作。
开展器件空间辐射环境多因素协合效应研究，完善辐射诱导缺陷和载流子耦合模型，构建主流工艺器件空间辐射效应模拟仿真软件系统；探索新型器件结构／材料在空间环境因素作用下性能变化的基本规律和物理本质；健全器件空间服役行为的理论分析方法和评价体系。支撑我国核心宇航元器件的基础理论研究，实现核心宇航元器件的自主可控。
联系人：王天琦
电话：13796163141
Email ：wangtq@hit.edu.cn
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| 终端名称 | 功能/参数 | 指标 | |||
|---|---|---|---|---|---|
| 高能离子 辐照终端 | 单粒子试验 | 粒子 | 能量（MeV/u） | LET值（MeV.cm2/mg） | 硅中射程（μm） |
| 质子 | 70~300 | / | 273mm | ||
| Kr | 15.5 | 27.7~43 | 140 | ||
| Ta | 10.3 | 77.1~83.2 | 83 | ||
| Bi | 10.32 | 97.3~99.8 | 65 | ||
| 束斑大小：2cm×2cm（大气）；30cm×30cm（真空） | |||||
| 低能离子 辐照终端 | 质子辐照能量 | 10MeV | |||
| 电子辐照能量 | 0.1MeV~1.2MeV | ||||
| 质子束斑尺寸 | 5μm（微束） | ||||
| 高低温交变范围 | 50K~500K | ||||
| 离子束分析技术 | RBS、PIXE等 | ||||
| 分析测试平台 | 原位在线 测试设备 | SCS-4200A：电流1fA~30A，电压10μV~3000V； 高带宽示波器：59GHz； 高频网络分析仪：67GHz； | |||
| 离线测试设备 | 深能级瞬态谱仪：缺陷密度1×109atoms/cm3； 电流电压测试系统：太阳电池 I-V，QE； 低温恒温器：10K ~800K； 少子寿命测量仪：硅、锗材料寿命测量； 大功率探针台：10000V，600A（脉冲） | ||||
