器件辐照研究

半导体特性分析仪

2022/04/21 12:47 点击:9

仪器名称:半导体特性分析仪


厂家:Tektronix/Keithley

型号:4200A,2626-2651-2657(高压)

联系人:王天琦

电话:13796163141

地点:空间环境地面模拟装置综合楼器件系统N203室



主要规格及技术参数


3通道IV测量:105mA,210V;

C-V测试:频率范围 1K-10MHz;

2通道脉冲:1Hz-50MHz,周期: 20ns-999ms,最小脉冲宽度10ns;

高功率I-V测试:电压:±3KV,电流:DC±20A,Pulse±50A。


主要功能及特色

加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析;

配套高功率封装器件夹具盒,最大电压:±3280V,最大电流:DC±40A;Pulse±100A;

提供同步电流电压曲线测试(IV曲线测试)、电容电压曲线测试(CV曲线测试)和超快脉冲IV曲线测量。