多环境场耦合半导体性能测试系统
2022/04/21 14:15 点击：126
仪器名称：多环境场耦合半导体性能测试系统（建设中） 厂家：和创联合科技（北京）有限公司 型号：定制 联系人：明德楼D505 电话： 地点： |
主要规格及技术参数
温度范围：20 K-400 K；最大电压不小于100V；最小电流分辨率10fA。
主要功能及特色
1.室温环境中测试
a.测量I-V（电流随电压的变化）
b.测量介电参数，（如Z-θ、Cp-D等）
2.温度场环境中（20~400K）测试
a.测量I-V（电流随电压的变化）
b.测量I-T（恒压条件下电流随温度的变化）
c.测量不同温度下介电参数
3.磁场环境中（0~2.5T）测试
a.测量I-V（电流随电压的变化）
b.测量不同磁场下的介电参数
4.光场环境中(400~1100nm)测试
光斑下测量I-V（电流随电压的变化）
